數(shù)字式局部放電檢測(cè)系統(tǒng)

數(shù)字式局部放電檢測(cè)系統(tǒng)的詳細(xì)介紹

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數(shù)字式局部放電檢測(cè)系統(tǒng)
 

一、概 述
JF─2006具有靈敏度高，適用的試品范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。它是具有我國(guó)特色并達(dá)到較高水平的新一代局部放電檢測(cè)儀，適用于電機(jī)、變壓器、互感器、電纜、套管、電容器及其它高壓電器的局部放電定量測(cè)試。



二、特 點(diǎn)
●采用高速大容量數(shù)據(jù)采集卡，能進(jìn)行連續(xù)采集局放數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性好，準(zhǔn)確度高。
●具有測(cè)試、分析(多參數(shù)分析、二維圖譜分析、三維圖譜分析)、數(shù)據(jù)保存、報(bào)告生成及打印等功能
●能同時(shí)顯示局部放電波形(橢圓、正鉉波、直線三種方式)、局放量和測(cè)試電壓。
●在校正和測(cè)試過程中自動(dòng)調(diào)節(jié)增益而不需要人為干預(yù)，操做簡(jiǎn)便。
●可適應(yīng)工頻(50Hz)。三倍頻(150Hz)和zui高至400Hz的電源。
●開門開窗可任意設(shè)置zui小可至1度。
●可單通道也可四個(gè)通道進(jìn)行測(cè)量。
●體積小，重量輕。既適合于電力部門和制造廠車間等現(xiàn)場(chǎng)使用，也適合于科學(xué)研究試驗(yàn)。



三、主要技術(shù)指標(biāo)
1．可測(cè)試品的電容量范圍：6pf～250uf。
2．檢測(cè)靈敏度：<0.02pc(電容50pf時(shí))。
3．放大器：3db低端頻率f1 10、20、30、50、80kHz任選，3db頻率fh 100、200、300、400、500KHz任選。增益調(diào)節(jié)范圍>120db，檔間增益差20±1db。正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性<1db。
4．時(shí)間窗：窗寬1°～360°，窗位置可任意旋轉(zhuǎn)。
5．試驗(yàn)電壓表：0～200kV，數(shù)字表顯示時(shí)誤差<3%F.S。
6．采集通道：4通道/卡。
7．輸入阻抗：1MΩ。
8．采集卡zui高采樣率：20MHz。
9．AD分辨率12BIT。直流*0.2%。
1O．每通道采樣長(zhǎng)度：8M。
11．觸發(fā)方式：手動(dòng)、外觸發(fā)、內(nèi)觸發(fā)。
12．采集卡帶寬：3MHz(-3DB)。
13．重量：約15kg。

四、系統(tǒng)界面

測(cè)試主界面：


自動(dòng)報(bào)告生成：
 

二維分析：
（放電量相位、放電次數(shù)相位、放電量測(cè)試電壓、放電能量次數(shù)、相位放電次數(shù)、平均放電量相位）


三維分析：